Center za vrstično tipalno mikroskopijo združuje sorodne preiskovalne in eksperimentalne tehnike, ki uporabljajo ostro konico – tipalo, s katerim preiskujejo površino različnih materialov. Omogočajo visokoločljivo strukturno in elektronsko preiskavo površin in različnih njihovih lastnosti praktično vseh vrst materialov, od kompleksnih trdnih snovi z eksotičnimi (kvantnimi) lastnostmi, polprevodnikov, nanostruktur in tankih plasti, do različnih organskih struktur in funkcionalnih materialov.
| Sobno- in nizko- temperaturni UHV STM sistem Omicron/Createc (LT-STM CreaTec Fischer & Co. GmbH + STM-1 Omicron Vakuumphysik GmbH) |   |
| Nizkotemperaturni UHV STM (LT-STM CreaTec Fischer & Co. GmbH) Na sistemu poteka nadgradnja na q-Plus kombiniran NC-AFM / STM. |   |
| Variabilno-temperaturni UHV STM/AFM (Omicron VT AFM) |  |
| Hitro-vrstični AFM s PFM/KPFM/EFM moduli ter z možnostjo priključitve zunanjega magnetnega polja (Jupiter-XR, Asylum Research USA) |  |
| AFM s PFM/CAFM/SThM/KPFM/EFM in FMF moduli (MFP-3D, Asylum Research USA) |  |
| AFM z načini EMF, FMF, CAFM, KPFM (Veeco Dimension 3100) |  |
| AFM (Veeco Dimension 3100) |  |
| AFM (Nanoscope IIIa, Digital Instruments) |  |
| Profilometer za velike vzorce (Form Talysurf Series 2, Taylor-Hobson Ltd., GB) |  |
| Profilometer (Bruker Dektak XT, Bruker Corp., USA) |  |
| Ultra-visoko vakuumska oprema in komponente (rotacijske, turbo in ionske črpalke), oprema za pripravo vzorcev (polirni stroji, cisti prostori, oprema za nanašanje tankih plasti), oprema za in-situ UHV pripravo površin in tankih plasti (nizko- in visoko-temperaturni naparjevalniki), LEED/AES spektrometer… |
Vodja centra:
Erik Zupanič